特徴と主な仕様:
・顕微ラマン分光分析装置
・レーザー波長 532nm
形式:
・inVia Reflex ND高速ラマンイメージング
・マイクロスコープシステム
特徴と主な仕様:
・ミクロな疲労損傷過程を自動顕微鏡観察
・試験温度:室温~700度程度
・観察倍率:~2,000倍(モニタ倍率)
・疲労試験機容量:50kN
形式:
・疲労試験機:サーボパルサ
・顕微鏡:VHX8000
特徴と主な仕様:
・顕微ラマン分光分析装置
・レーザー波長 532nm
形式:
・inVia Reflex ND高速ラマンイメージング
・マイクロスコープシステム
特徴と主な仕様:
・ミクロな疲労損傷過程を自動顕微鏡観察
・試験温度:室温~700度程度
・観察倍率:~2,000倍(モニタ倍率)
・疲労試験機容量:50kN
形式:
・疲労試験機:サーボパルサ
・顕微鏡:VHX8000